EDI（EDI膜块）法除去二氧化碳是它的性能的一个重要方面。当二氧化碳存在于离子交换进水流中时，二氧化碳在阴离子树脂的离子交换地点同二氧化硅相竞争。二氧化碳常代表在离子交换系统上的阴离子负载，特别地当RO（RO反渗透膜）装置置于离子交换装置前时。过量二氧化碳的存在既限制离子交换树脂除去二氧化硅的容量，又限制离子交换床除去二氧化硅的效率。如将在18.6.1节中讨论，二氧化硅去除在发电和半导体生产中是临界的。过量的二氧化碳存在实际上使工厂暴露出潜在的严重的二氧化硅问题。二氧化碳通常不能通过其他的如RO和EDR的膜脱盐法被除去，除非作出改变碱度水平的化学调节。另一方面，在大多数应用中，EDI是一种常规的使CO₂水平降低到99％以上的膜脱盐方法。